核心技术结合了脉冲紫外激光束照射和可编程的移动台，计算用于超快焊接铜纳米线网络。

在初始亮度为100cd m-2的稳定性测试下，高管器件的T50寿命超过255小时。然而，闪电其前驱材料自身溶解度较低，闪电使得相应薄膜容易产生结晶质量低、缺陷密度高、形貌差等缺点，进而造成非辐射复合几率升高，这会大大降低器件效率。

离职该工作得到自然科学基金委项目（编号61875161和61904145）等的支持。软件C元素代表PEDOT：PSS和TPBi层。此外，群组还发现在预退火过程中反溶剂氛围处理与薄膜的成膜性和光学特性密切相关，这进一步从一定程度上提高了薄膜荧光质量。

洗牌(d)不同传输层器件的J-V曲线。总的来说，计算XPS测试结果表明，全无机异质结发光器件能够有效抑制离子迁移，提高了器件稳定性。

高管传统器件结构的发光二极管在(c)运行前与(d)运行后各层元素分布测试。

该项研究工作以题目为SuppressingIonMigrationEnablesStablePerovskiteLight-EmittingDiodeswithAll-InorganicStrategy近期发表于国际期刊AdvancedFunctionalMaterials (2020)（影响因子16.836，闪电论文链接：闪电https://doi.org/10.1002/adfm.202001834）一个完美的界面能带排列不仅有利于高效电荷提取、离职传输和收集，而且有利于减少界面电荷积累和J-V迟滞。

这些钝化分子与钙钛矿薄膜主要通过配位键、软件离子键和范德华键进行作用。群组大多数钙钛矿薄膜体相的缺陷都是浅能级的点缺陷。

洗牌界面接触诱导的界面反应可以通过引入化学惰性的功能分子来抑制。此外，计算缺陷也可以分为点缺陷（空位、计算间隙和反位）、成对缺陷（如Frenkel和Schottky缺陷）、一维缺陷（如位错）、二维缺陷（如晶界）和三维缺陷（如析出相、大的缝隙等）。